EUVIS任意波形發(fā)生器AWG414
發(fā)布時(shí)間:2022-10-18 17:01:46 瀏覽:6405
EUVIS的AWG414模塊形成采樣率高至4GSPS的雙任意CW波型。板載SRAM為所有通道提供高至4Mx12位數(shù)據(jù)寄存器。AWG可以通過模塊USB接口由PC預(yù)存儲(chǔ)的波型也可以單獨(dú)用作操控。僅有的射頻輸入是單端時(shí)鐘源CK,AWG414能夠在高至4GHz的頻率下以12dBm最小功率作業(yè)。
AWG414模塊射頻輸出由兩組差分模擬輸出組合50-Ω反向端接。AWG414模塊接收高速觸發(fā)信號(hào),形成三個(gè)可編程標(biāo)識(shí)信號(hào)。波型形成可以是連續(xù)性或突發(fā)/脈沖模式。用戶頁面可以使用動(dòng)態(tài)調(diào)整波型信息。可編程文件選項(xiàng)有利于復(fù)合波型。配置API為軟件開發(fā)提供界面。
主要特征
兩個(gè)具備10位線性度的12位DAC
輸出的同相位或正交同步
標(biāo)準(zhǔn)AWG的采樣率為4GSPS,外部時(shí)鐘為4GHz
可選擇4GHz內(nèi)部時(shí)鐘和10MHz參考時(shí)鐘
可選擇采樣率范圍:2~4GSPS,外部時(shí)鐘為2~4GHz
高至2x4M12位字存儲(chǔ)深度,多頁配備
在4GHz時(shí)鐘速率下高至1ms的波型
接受外部開啟并形成標(biāo)識(shí)信號(hào)(可編程)
可編程循環(huán)系統(tǒng)重復(fù)
USB2.0兼容端口(可根據(jù)要求提供其他端口)
12V電源
用戶友好的輸入數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換和各種內(nèi)嵌波型
配置API和軟件驅(qū)動(dòng)程序,有利于程序開發(fā)
應(yīng)用
EuvisAWG模塊能夠靈活地形成具有較高的采樣率、動(dòng)態(tài)頁面選擇及其連續(xù)性或突發(fā)模式操控的任意模式,這使得AWG適合于各種應(yīng)用,例如:
線性調(diào)頻(LFM)和啁啾
調(diào)頻連續(xù)波雷達(dá)(FMCW)
敏捷LO頻率合成
電子戰(zhàn)
射頻信號(hào)源形成
迅速跳幀
VSAT衛(wèi)星通訊
測(cè)試和測(cè)量?jī)x器
EUVIS公司位于美國加州,EUVIS設(shè)計(jì)與生產(chǎn)全球頂尖的高速數(shù)模轉(zhuǎn)換DAC、直接數(shù)字頻率合成器DDS、復(fù)用DAC的芯片級(jí)產(chǎn)品,以及高速采集板卡、動(dòng)態(tài)波形發(fā)生器產(chǎn)品。
EUVIS的高速DAC芯片采樣率達(dá)到10Gsps,超高性價(jià)比,完全滿足測(cè)試、航空航天、雷達(dá)、軍事等應(yīng)用要求。
深圳市立維創(chuàng)展科技是EUVIS的代理經(jīng)銷商,主要提供EUVIS的全球頂尖的高速數(shù)模轉(zhuǎn)換DAC、直接數(shù)字頻率合成器DDS、復(fù)用DAC的芯片級(jí)產(chǎn)品,以及高速采集板卡、動(dòng)態(tài)波形發(fā)生器等產(chǎn)品,原裝現(xiàn)貨,價(jià)格優(yōu)勢(shì),歡迎咨詢。
詳情了解EUVIS請(qǐng)點(diǎn)擊:http://www.lunliu2.cn/brand/24.html
推薦資訊
EEPROM芯片通常不內(nèi)置ADC,若某款內(nèi)置1路14bit ADC,其精度主要受分辨率(理論精度高但實(shí)際受量化誤差等多種因素影響)、采樣率(采樣率越高理論上精度越高,但過高可能影響轉(zhuǎn)換時(shí)間,且采樣帶寬限制會(huì)影響精度)、使用通道數(shù)(單通道ADC精度主要取決于單個(gè)通道性能,無通道切換誤差)以及其他因素(如參考電壓穩(wěn)定性、溫度影響,參考電壓波動(dòng)和溫度變化都會(huì)影響精度)影響 。
HMC576 是 Analog Devices 推出的高性能射頻芯片,應(yīng)用于通訊基站、機(jī)載雷達(dá)等多個(gè)領(lǐng)域。其核心優(yōu)勢(shì)是寬頻帶覆蓋(2GHz 至 20GHz)、低噪聲系數(shù)(典型值 2.5dB)和高線性度,能提升系統(tǒng)性能。它還具備寬頻帶設(shè)計(jì)、低噪聲增強(qiáng)、高集成度、工業(yè)級(jí)可靠性等特性。目前現(xiàn)貨供應(yīng),提供技術(shù)方案支持、靈活采購選項(xiàng)和質(zhì)量保障,典型應(yīng)用于 5G 基站、相控陣?yán)走_(dá)和測(cè)試儀器。