EV12AS200A是基于前端跟蹤和保持級（T/h）的12位1.5gsps ADC，隨后是模擬編碼電平。EV12AS200A輸出模擬量化產(chǎn)生的模擬殘差。在進入糾錯電路和再同步階段之前，連續(xù)鎖存器組將模擬殘差重新生成到邏輯電平，然后進入具有100W差分輸出緩沖器的解復(fù)用器。EV12AS200A 串行接口可激活或集成三個WS3A接口。通過3wsi訪問的主要功能也可以通過硬件（OA、GA、SDA、sdaen、TM、RS引腳）訪問。
EV12AS200A在從模擬輸入到數(shù)字輸出的全差分模式下工作。EV12AS200A在第一個奈奎斯特區(qū)域運行到L波段。激活時，可以使用插腳rs或3wsi選擇演示比率（1:1或1:2）。
解復(fù)用輸出在每個端口上同步。差分?jǐn)?shù)據(jù)就緒輸出可用于指示輸出何時有效。數(shù)據(jù)就緒（DR、DRN）由兩個端口共享。為了簡化多個adc的同步，可以使用觸發(fā)器函數(shù)。上電復(fù)位確保第一個數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)與第一個采集相對應(yīng)。也可以使用外部差分LVDS重置（同步、同步）。
3wsi 可訪問 res功能允許更改重置信號的活動邊緣。提供增益控制引腳GA和偏移控制OA，以調(diào)整ADC增益和偏移傳輸函數(shù)。
這些功能也可以通過3wsi訪問。例如，對于需要多個ADC交錯的應(yīng)用，提供采樣延遲調(diào)整（SDA）來微調(diào)ADC孔徑延遲。器件的結(jié)溫可由二極管監(jiān)測。為了調(diào)試和可測試性，提供以下功能：
在ADC輸出處測試Vol或Voh的靜態(tài)測試模式（所有位分別處于“0”或“1”級別）-這些模式只有在激活時通過3wsi訪問；
動態(tài)內(nèi)置測試（校準(zhǔn)模式周期為16），激活時，硬件（TM）或3wsi可訪問信號。
該電路可以提供三種不同的電源電壓（vcc5=5.0V，vcc3=3.3V，vcco=2.5V）來優(yōu)化功耗，也可以使用兩種不同的電源（vcca5=5.0V，vcc3=vcco=3.3V）來優(yōu)化功耗，并且只能使用兩個導(dǎo)軌。
EV12AS200A 主要功能
?單核ADC結(jié)構(gòu)，12位分辨率，集成可選1:1和1:2 DemX
?1.5 GSps保證轉(zhuǎn)換率
?500 mVpp模擬輸入電壓（差動全刻度和交流耦合）
?極低延遲（<5個時鐘周期）
?噪音地板–150 dBm/Hz（10 MHz帶寬中的13位ENOB）
?模擬和時鐘輸入阻抗：100W差分
?功耗：3.0W（1:1模式）；3.1W（1:2模式）
?差分輸入時鐘（交流耦合）
?LVDS差分輸出數(shù)據(jù)和數(shù)據(jù)已準(zhǔn)備就緒，位于2個輸出端口上
?僅寫入3WSI類數(shù)字接口（增益、偏移、采樣延遲調(diào)整、DMUX比率選擇、測試模式）
?交錯控制的ADC增益、偏移、采樣延遲調(diào)整
?動態(tài)測試模式（校準(zhǔn)順序）
?電源：VCCA5=5.0V，VCCA3=3.3V，VCCO=2.5V或3.3V
?包裝：FpBGA196 15 x15 mm2 196球
EV12AS200A 應(yīng)用
?衛(wèi)星通信系統(tǒng)
?電信測試儀器
?無線通信系統(tǒng)
?直接射頻下變頻
?自動測試設(shè)備
?直接L波段射頻下變頻
?雷達(dá)系統(tǒng)
?高分辨率示波器
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